Máy đo lường quang học kết hợp đầu dò ZEISS O-INSPECT
Máy đo đa giác O-INSPECT của ZEISS cho phép bạn tối ưu hóa từng đặc tính của chi tiết cần đo bằng phương pháp quang học kết hợp tiếp xúc.
MÁY ĐO LƯỜNG QUANG HỌC - ĐA CẢM BIẾN
Máy chiếu đo lường kỹ thuật số ZEISS O-SELECT
Nhờ thiết lập hệ thống tự động cấu trúc ánh sáng đồng trục mà việc đo lỗi do thao tác thủ công của người vận hành đã được loại bỏ. Chỉ cần động tác nhấn nút, ZEISS O-SELECT sẽ trả kết quả với các đánh giá cực kỳ chính xác và chuyên nghiệp
